在物理吸附表征領域，比表面積 < 1 cm*3/g 的極低比表面積材料（以下簡稱“小比表樣品"）的精確測定，長期是學術界與工業界共同面臨的共性技術難題。近期，國儀量子研發團隊協同華中科技大學分析測試中心微孔分析儀設備管理團隊，聚焦小比表樣品測試中的等溫線交叉、信號反饋異常等核心瓶頸開展技術攻關，通過硬件改良與算法創新的雙重驅動，成功實現了對此類樣品的高精度表征。目前相關技術方案已完成驗證，國儀量子 Sicope 40 微孔分析儀正式上線并開放共享服務。 功能定位：精準對接“高難度"表征需求華中科技大學分析測試中心作為支撐全校科研創新的重要公共技術平臺，致力于為材料、能源、化學及生命科學等多學科提供高水準的精密表征支持。結合各學院自主實驗室提供的樣品特性，SiCOPE 40微孔分析儀重點服務以下領域： 性質表征：針對信號反饋極弱的極低比表面積樣品或需使用特殊氣體的復雜吸附過程測試。 長時程深度分析：針對具有復雜孔道結構、平衡時間長的微孔材料，提供高穩定性的長周期測試環境。 技術回溯：小比表測試中的信號噪聲挑戰 2025年6月，國儀量子與華中科技大學分析測試中心達成戰略合作協議，引入國儀量子Sicope40微孔分析儀。華中科技大學分析測試中心作為示范應用樣板點，面向校內外提供該儀器開放測試服務，以實際應用反饋驅動技術迭代與產品優化，打造高水平表面結構分析平臺。 在材料學院（如硬碳、生物質碳）及能源學院（如生物炭）提供的初期樣品測試中，中心儀器管理團隊反饋：微孔分析儀操作簡便，經簡單培訓用戶即可獨立使用，但當樣品量較少且比表面積極低時，物理吸附過程易受到環境擾動及系統殘留誤差的影響，出現等溫線異常下降、吸附量呈負值、等溫線交叉等異常問題。 圖注：微弱吸附信號在系統背景噪聲及溫度漂移干擾下產生的非物理性波動 性能驗證：確立先進的測試精度 面對這一行業共性難題，國儀量子研發團隊快速響應，與分析測試中心設備管理團隊深度協作，經多輪樣本實測與儀器調優，最終形成以軟硬件優化的綜合解決方案，提升了小比表樣品測試的準確性、平行性和重復性。 經系列優化后，研發團隊與分析測試中心設備管理團隊針對同類標樣及學術樣本開展多組對比實驗。實驗結果表明，SiCOPE 40測試結果均表現優秀。 圖注：中國計量院GBW130365標樣 圖為優化后分測中心SiCOPE 40測試曲線（BET測試結果：0.1832） 比表面積及孔徑推薦設備國儀量子比表面及孔徑分析儀SiCOPE 40 介紹： 測試通量：4站并行測試 測試氣體：N2、Ar、CO2、H2等其他非腐蝕性氣體 測試范圍：比表面積：0.0005 m2/g及以上； 孔徑：0.35-500 nm孔徑精準分析； 總孔體積：0.0001 cc/g及以上 測試精度：比表面積重復性（RSD）≤1.0%；最可幾孔徑重復偏差≤0.02 nm 分壓范圍：10-8~ 0.999 脫氣處理：4站原位脫氣；并配置獨立樣品預處理設備，獨立6組控溫 控溫范圍：室溫~400 ℃，控溫精度：±0.1 ℃ 分析模型：BET比表面積、Langmuir表面積、t-plot分析、BJH、HK、DR/DA、NLDFT孔徑分布